Fabio Furlan Ferreira

Pesquisador
É Professor Adjunto da Universidade Federal do (UFABC) lotado no Centro de Ciências Naturais e Humanas (CCNH). Foi o Físico responsável pela Linha de Difração de Raios X em Policristais (D10B-XPD) do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS) de 2003 a 2009. Tem experiência na área de Física, com ênfase em Cristalografia e em Física da Matéria Condensada, atuando principalmente nos seguintes temas: caracterização estrutural de materiais através do uso da difração de raios X por policristais e do método de Rietveld (fármacos, materiais com expansão térmica negativa, células a combustível de estado sólido, materiais de intercalação, dentre outros), determinação de estruturas cristalinas através de métodos de espaço direto (simulated annealing, parallel tempering, etc.), estudo de propriedades estruturais de materiais submetidos a altas pressões, materiais eletrocrômicos a base de Au/NiO. Tem publicado e realizado palestras mostrando potencialidades do Método de Rietveld e aplicações, juntamente com os outros instrutores deste curso e também na UFABC. É membro do ICDD (International Centre for Diffraction Data), a qual é responsável pela distribuição das bases de dados PDF-2 e PDF-4, da International Union of Crystallography, sócio efetivo da Associação Brasileira de Cristalografia e da Sociedade Brasileira de Física.